产品概述

本产品是一款专为14dB模块测试频率3GHz射频模块设计的77Pin测试座，广泛应用于射频模块的研发、生产测试及可靠性验证环节。该测试座采用高性能射频材料与精密机械结构，确保在3GHz工作频率下信号传输的稳定性和低损耗特性，满足高精度射频测试需求。

主要特性

• 高频性能：支持高达3GHz的测试频率，插入损耗低，回波损耗优异，保证信号完整性。
• 77Pin设计：精密排列的77个触点，兼容标准射频模块引脚定义，接触可靠，寿命长。
• 14dB模块适配：针对14dB增益模块优化阻抗匹配与屏蔽设计，减少信号干扰。
• 耐久性强：触点采用优质铍铜合金，镀金处理，插拔寿命可达10万次以上。
• 操作便捷：采用翻盖或按压式锁紧结构，支持快速装夹，提高测试效率。

技术参数

| 项目 | 规格 |
|------|------|
| 测试频率 | DC ~ 3GHz |
| 特性阻抗 | 50Ω |
| 驻波比（VSWR） | ≤1.5:1 @3GHz |
| 插入损耗 | ≤0.5dB @3GHz |
| 触点数量 | 77Pin |
| 接触电阻 | ≤20mΩ |
| 绝缘电阻 | ≥1000MΩ |
| 耐压 | 500V AC |
| 工作温度 | -40℃ ~ +85℃ |
| 材料 | 铍铜合金触点，金镀层；绝缘体为PEEK或PTFE |

应用领域

该测试座适用于14dB射频模块的批量生产测试、老化测试、研发调试以及品质抽检等场景，尤其适合无线通信、基站射频单元、雷达模块等对信号质量要求严苛的场合。

使用说明

1. 将测试座固定于测试台面，确保接地良好。
2. 根据模块引脚方向，将射频模块正确放入测试座中，77Pin对齐。
3. 锁紧测试座（翻盖或旋钮），确保各触点充分接触。
4. 连接射频测试仪器至测试座端口，进行3GHz频率下的性能测试。
5. 测试完成后，松开锁紧机构，取出模块。

注意事项

• 请勿超过额定频率和功率使用，以免损坏测试座或模块。
• 定期清洁触点，避免灰尘或氧化物影响接触性能。
• 避免剧烈冲击或跌落，防止精密结构变形。
• 存储环境应干燥、无腐蚀性气体，温度范围-20℃ ~ +60℃。

订货信息

产品型号：TS-77R3G-14dB
如需定制不同频率、引脚数或接口类型，请联系技术支持。

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